公司产品_杭州远帆行科学仪器有限公司

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杭州远帆行科学仪器有限公司

DX 400比表面积分析仪

比表面分析仪

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比表面积是表征微纳米粉体材料表面物性重要指标之一，常用的测定方法是氮吸附法。动态氮吸附法测定比表面积广泛应用于工业中生产线上产品的快速检测。精微高博公司发明专利仪器DX400比表面积分析仪，测试准确、高效，一小时测试48个标准样品。非常适合三元材料、石墨等电池正负极材料、医药辅料等小比表面样品的测试。在-196度低温液氮环境下，通入一定流量比例的氮氦混合气体，采用高精度热导池根据样品吸附氮分子前后的气体浓度变化，得到吸附峰或脱附峰，峰面积正比于氮气吸附量，应用直接对比法或BET理论计算出样品的比表面积大小。
JW-D系列动态氮吸附比表面测定仪

比表面分析仪

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比表面积是表征微纳米粉体材料表面物性重要指标之一，常用的测定方法是氮吸附法。动态氮吸附法测定比表面积广泛应用于工业中生产线上产品的快速检测。精微高博公司发明专利仪器JW-DX型动态吸附比表面测定仪，测试准确、高效，非常适合三元材料、石墨等电池正负极材料、医药辅料等小比表面样品的测试。
JW-BK基础型比表面及孔径分析仪

比表面分析仪

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比表面积及孔径分布，是表征微纳米粉体材料表面物性及孔结构的重要参数之一，常用、可靠的方法是静态容量法气体吸附。JW-BK基础型系列全自动比表面及孔径分析仪即能准确可靠解决粉体材料比表面积及孔径分析问题，根据测试功能不同可区分为JW-BK112、JW-BK122W、JW-BK222三种型号，其中，JW-BK122W型因配置有小量程10torr压力传感器，配合二级吸附泵技术，可有效分析0.7nm以上微孔材料的孔径分布需求。低温条件下（液氮或液氩等），在密闭的真空系统中，改变吸附质气体压力，通过高精密压力传感器测量出样品吸附气体分子前后的压力变化值，进而计算出气体吸附量，描绘出等温吸脱附曲线，应用各种物理分析模型进行比表面积及孔隙度分析
JW-BK400系列四站比表面及孔径分析仪

比表面分析仪

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比表面积及孔径分布，是表征微纳米粉体材料表面物性及孔结构的重要参数之一，常用、可靠的方法是静态容量法气体吸附。JW-BK400系列高通量全自动比表面及孔径分析仪即能准确可靠解决粉体材料比表面积及孔径分析问题，该产品配置4个独立并列分析站，测试效率超高，可有效解决纳米粉体材料的比表面介孔大孔高通量分析问题，满足中大型企业多样品、高效率测试需求。

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